지식재산권
특허프로그램증제품개발 이력
제 C-2020-008398호
저작권 등록증 (비전과 서보 모터를 이용한 정밀 운송 기능 제어)
제 C-2019-012435호
저작권 등록증 (카메라 모듈 멍 이물 분류)
제 C-2018-003888호
저작권 등록증 (다이싱 장치)
제 C-2017-010633호
저작권 등록증 (휴대용 듀얼 카메라 모듈 에폭시 본딩 유무 검사 프로그램)
제 C-2017-010634호
저작권 등록증 (휴대용 카메라 모듈 pcb상의 에폭시 도포 상태 검사 프로그램)
제 C-2017-010006호
저작권 등록증 (카메라 기능검사 (PCFT))
제 C-2017-010005호
저작권 등록증 (머신 비전 기반 회전축 추정 및 회전 운동량 계산 알고리즘)
제 C-2017-010004호
저작권 등록증 (카메라 기능 검사 소프트웨어 개발 키트 (PCFT SDK))
제 C-2012-015571호
프로그램 등록증 (스마트렌즈 얼라이너 프로그램)
- 2024Prism Dubbing, VCM Dubbing, CCM Blow & Suction, N Para Inspection Handler, CCM Auto Chart Tester
- 2023Golf Ball Inline System, CCM Bending/Bonding/Attach/Tester Dubbing, Right Angle, MST Loader, CPU Test Handler, Lens Dubbing, Folded zoom actuator system
- 2022SEM Wafer cleave system, SEM Wafer polishing system, EOL Tester, FOL Handler, Camera Module Actuator Tester, Memory Handler, Memory Peltier Handler
- 2021SEM Sample Preparation System Upgrade, TEC Block, Flying Vision, ToF Tester, Laser module Handler
- 2020Image sensor transfer system, CCM sorting system, CCM transfer system, Tray unloading system, Tray flipping system, SEM horizontal sample preparation system, Memory T2B transfer system
- 2019ToF test system, Universal P&P system, Tray packing inline system, PCB Folding& Unfolding system, SEM vertical sample preparation system, Memory test handler
- 2018Triple camera test system, Tray transfer system, Box packing inline system, Tape mounter
- 2017IR camera test system, Depth&color calibration system, Wafer laser marking system
- 2016Dual camera test system, PCB bending system, Actuator test system, PDAF system, PCB transfer system, Sheet particle remover, Dotting system, Wafer sorter
- 2015CCM Pick&Place system, PCB laser marking system, Auto wafer expander
- 2014VCM pre-focus system, Burn-in board test system, PR stripper, Reel tape inspector&sorter, RF module test handler
- 2013CCM test(Focus, image, DC) inline system, RF module test handler, Tray alignment inspector
- 2012Logic test system, Wafer sorter
- 2011OIS test system
- 2009Digital camera test system
- 20084port Linear type CCM test system
- 20072index semi-auto CCM test system
- 2006Semi-auto CCM test system(World's first)
- 2003Probe card test system